Keysight Technologies，Inc。（NYSE：KEYS）增强了其双脉冲测试组合，使客户能够从准确，轻松地测量宽带gap（WBG）功率半导体裸露芯片的动态特性中受益。测量固定装置中实施的技术最小化寄生虫，不需要焊接裸芯片。这些固定装置与Keysight的双脉冲测试仪的两个版本都兼容。
WBG功率半导体设备对于为电动汽车，替代能量和数据中心等应用构建高效且强大的电源电子设备至关重要。它们以各种形式使用，例如包含功率半导体裸芯片的离散包装设备或功率模块。在包装加快开发之前，将裸芯片表征为裸芯片。但是，通过传统方法测量功率半导体裸芯片的动态特性需要直接焊接到裸芯片上，然后才能进行测试。这不仅很困难，而且可以引入寄生虫，将错误引入测量结果。
新的Keysight Bare芯片动态测量解决方案有助于电源半导体设备工程师，电力电子工程师在将芯片切成薄片后立即进行动态表征。固定装置的创新设计允许快速容纳裸芯片，并提供足够的电气接触，同时防止小而脆弱的裸芯片弧形或损坏。不使用探测，电线粘合或焊接的独特固定结构可最大程度地减少测试电路中的寄生虫，并产生用于快速操作的WBG功率半导体设备的干净测量波形。
Keysight Automotive＆Energy Solutions副总裁兼总经理Thomas Goetzl表示：“随着新的WBG半导体裸芯片评估方法的引入，我们正在帮助行业加快高效，强大的功率势力半导体的开发，即使奇普动态模式的测试几乎是不可能的。 文件夹。”
